A Difração de Raios X: uma Técnica de Investigação da Estrutura Cristalina de Materiais

Abstract

difração de raios X (XRD) é uma poderosa técnica não destrutiva de caracterizaçãode materiais cristalinos. Ela fornece informações a respeito das estruturas, das fases, daorientação dos cristais em uma amostra, além de outros parâmetros estruturais, comotamanho médio de grão, cristalinidade, tensão e defeitos do cristal. Os picos de difração deraios X são produzidos pela interferência construtiva de um feixe monocromático de raiosX espalhados em ângulos específicos, a partir do conjunto de planos atômicos em umadada rede cristalina na amostra. O padrão de difração de raios X obtido (difratograma)é a impressão digital dos arranjos atômicos periódicos em um determinado material.Este artigo abordará um resumo sobre a técnica de difração de raios X, a instrumentaçãoutilizada, a preparação de amostras e algumas aplicações industriais atuais, relacionadasàs áreas de fármacos, aplicações geológicas, microeletrônica e análise de corrosão.