Fear of failure: What drives it in Latin America?

Abstract

Objetivo: Identificamos y cuantificamos el impacto de varios factores que afectan la respuesta emocional de los individuos frente al miedo al fracaso dada la situación externa que enfrentan en cinco países latinoamericanos: Brasil, Colombia, Chile, México y Perú. Originalidad: Proponemos un modelo de la experiencia del miedo al fracaso y verificamos una versión reducida del mismo. Asimismo, identificamos las diferencias en los factores entre los diferentes países considerados. Metodología: Utilizamos un modelo logístico de datos de panel no balanceado para Latinoamérica durante los años 2010-2015 y verificamos la robustez de los resultados con un modelo logístico de corte transversal. Resultados: Encontramos que ser mujer y madre soltera aumenta el miedo al fracaso de las personas, mientras que la edad y la educación superior lo reducen. La autopercepción de los individuos reduce su miedo al fracaso en casi un 19\%, lo que implica que una autopercepción positiva los ayudará a superar su respuesta emocional frente al miedo al fracaso. También descubrimos que la red de contactos empresariales de las personas puede mitigar y la experiencia empresarial negativa pasada puede aumentar el miedo al fracaso, pero estos efectos cambian entre los países. Recomendaciones: Para fomentar la respuesta positiva de los empresarios ante el miedo al fracaso, las incubadoras de empresas deben trabajar en sus rasgos personales, especialmente el exceso de confianza. Además, los gobiernos regionales deben tomar medidas para promover una mayor participación femenina y educación empresarial para todos. Limitación: Estamos sujetos a la limitación de la base de datos del GEM en la recopilación de datos. Conclusión: La experiencia de las personas hacia el miedo al fracaso es un proceso que se ve afectado por su género, edad, educación y autopercepción. Además, es un proceso dinámico que se mitiga o amplifica con la red de emprendedores y la experiencia empresarial negativa anterior.