Aplicación de Seis Sigma y los Métodos Taguchi para el Incremento de la Resistencia a la Prueba de Jalón de un Diodo Emisor de Luz

Abstract

Resumen El presente trabajo trata sobre la aplicación de la metodología de seis sigma (DMAMC), así como los métodos Taguchi para resolver el problema de baja resistencia a la prueba de jalón de un diodo emisor de luz (LED) de una compañía electrónica del noroeste de México, el cual es utilizado en el ensamble de teléfonos celulares. Al término de este proyecto se logró una mejora significativa al aumentar la capacidad del proceso de 0.56 a 1.45 y un impacto en la reducción de los costos, tan solo por eliminación de desperdicio, del orden de 130 mil dólares estadounidenses anuales. Para lo anterior no se requirió de inversión adicional, únicamente fue necesario controlar el ajuste de cada uno de los factores importantes del proceso. Palabras clave: seis sigma, métodos Taguchi, prueba de jalón, diodo emisor de luz Implementing Six Sigma and Taguchi Methods to Obtain an Increased Resistance on a Pull Test of a Light Emitting Diode Abstract This paper deals with the application of six sigma methodology (DMAIC) and Taguchi methods to solve the problem of low resistance of the pulling test of a light emitting diode (LED), which is used in the assembly of cellular telephones in a northwest Mexican electronic company. After finishing this project a significant improvement was achieved that made possible to increase process capability from 0.56 to 1.45 and the impact in cost reduction only by the elimination of waste was of 130 thousand US dollars in savings per year. This achievement did not require additional investment, it was only necessary to control each of the most important factors in the process.