Skip to main content
Journal ArticleOPEN ACCESS

Analisis Pola dan Ukuran Bulir Spekel menggunakan LSI (Laser Speckle Imaging) pada Lapisan Tipis TiO2

  • Muchlian M
  • Dahlan D
  • Harmadi H
Jurnal Fisika dan Aplikasinya (2013) 9(2) 52
DOI: 10.12962/j24604682.v9i2.840
N/ACitations
Citations of this article
8Readers
Mendeley users who have this article in their library.

Abstract

… Metoda LSI telah menghasilkan citra pola spekel sampel lapisan tipis … lapisan tipis TiO2 akibat pengaruh variasi suhu pemanasan (100, 150 dan 200C). Ukuran bulir spekel lapisan tipis …

Cite

CITATION STYLE

APA

Muchlian, M., Dahlan, D., & Harmadi, H. (2013). Analisis Pola dan Ukuran Bulir Spekel menggunakan LSI (Laser Speckle Imaging) pada Lapisan Tipis TiO2. Jurnal Fisika Dan Aplikasinya, 9(2), 52. https://doi.org/10.12962/j24604682.v9i2.840

Register to see more suggestions

Mendeley helps you to discover research relevant for your work.

Already have an account?

Save time finding and organizing research with Mendeley

Sign up for free