Abstract
Представлены результаты исследования поверхности пленок висмута толщинами 15-100 нм на слюдяной подложке методом атомно-силовой микроскопии. Установлен близкий к линейному характер зависимостей средней шероховатости поверхности и средней высоты фигуры роста от толщины пленки. Обнаружено увеличение среднего размера кристаллитов с увеличением толщины пленки, и выявлена слабая зависимость размера кристаллита от толщины при толщинах 27-70 нм. DOI: 10.21883/FTP.2017.07.44641.27
Cite
CITATION STYLE
Крушельницкий, А. Н., Демидов, Е. В., Иванова, Е. К., Каблукова, Н. С., & Комаров, В. А. (2017). Зависимость морфологии поверхности ультратонких пленок висмута на слюдяной подложке от толщины пленки. Физика и Техника Полупроводников, 51(7), 914. https://doi.org/10.21883/ftp.2017.07.44641.27
Register to see more suggestions
Mendeley helps you to discover research relevant for your work.
