Phosphogypsum surface characterisation using scanning electron microscopy

Abstract

This paper presents the results of application of Scanning Electron Microscopy (SEM) to examinations of the samples of natural gypsum and phosphogypsum. Phosphogypsum has a well developed crystalline structure, and appear in two polymorphous forms, of rombic and hexagonal shape crystals. Natural gypsum has a poorly crystalline structure. The differences in crystalline structure influence the chemical behavior of these row materials.Elementarni sastav materije, bilo da je nepoznat ili da je potrebno proveriti sastav novog ili poznatog materijala koji ce se koristiti u daljem radu, predstavlja cest zahtev u savremenoj analitickoj praksi. Nekada se ovim zahtevima pridruzuje i potreba da se utvrdi morfologija ili struktura povrsinske hrapavosti uzorka, njegova homogenost ili prisustvo defekata u strukturi. Elektronske mikroskopske i spektroskopske tehnike ciji je nagli razvoj, sve do komercijalnih sistema, od sedamdesetih godina do sada, omogucen pre svega dostignucima u elektronskim i kompjuterskim tehnologijama, postale su snazno orudje za ostvarivanje pomenutih zahteva. U radu su prikazani rezultati primene skenirajuce elektronske mikroskopije (SEM) na ispitivanja povrsine uzoraka prirodnog gipsa i fosfogipsa, radi karakterizacije sastava i definisanja morfoloskog sastava. SEM snimci prirodnog gipsa i otpadnog fosfogipsa ukazali su da ova dva gipsa, iako imaju iste hemijske (molekulske) formule ? CaSO4?2H2O, imaju razlicitu strukturu: prirodni gips ima slabije izrazenu kristalnu strukturu a otpadni fosfogips ima izrazitu kristalnu strukturu, pretezno rombicnog i heksagonalnog oblika, sto ukazuje na njegov slozeniji sastav od prirodnog a sto je u skladu sa literaturnim podacima.