Verringerung schädlicher Defekte für leistungsstarke Metallhalogenid‐Perowskit‐Solarzellen

Abstract

In zahlreichen Photovoltaik (PV)‐Technologien begrenzt das Vorhandensein elektronischer Defekte innerhalb der Halbleiter‐Bandlücke den Wirkungsgrad, die Reproduzierbarkeit und die Lebensdauer. Metallhalogenid‐Perowskite (MHPs) haben wegen ihrer hervorragenden Photovoltaik‐Eigenschaften, die auch ohne eine sehr strenge Filmwachstumskontrolle erreicht werden können, große Aufmerksamkeit gefunden. Es wurde in theoretischer Hinsicht viel getan, um die Punktdefekte in MHPs zu beschreiben. Dieser Aufsatz diskutiert die experimentellen Hürden für eine gründliche Charakterisierung der Defekte in MHPs, wie experimentelle Zuordnung der Defektart, Defektdichten und die durch diese Defekte induzierten Energiepositionen innerhalb der Bandlücke. Das zweite Schwerpunktthema sind die Passivierungsstrategien. Auf Grundlage einer Literaturrecherche werden die Defektenarten untersucht, die zu berücksichtigen und zu minimieren sind. Ein grundlegendes Verständnis der Defektbeschaffenheit von MHPs ist wünschenswert, um deren optoelektronische Funktionen zu verbessern.